1. Test and diagnosis for small-delay defects
پدیدآورنده : / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)
رده :
TK7874
.
T4323
2011
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)